Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (3) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Cherepin V$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 2 Представлено документи з 1 до 2 |
|||
| 1. | 
Boguslavsky D. New Method and Tool for TEM Samples Preparation [Електронний ресурс] / D. Boguslavsky, V. Cherepin, Y. Polubotko, C. Smith // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 2. - С. 163-173. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_2_4 Представлено нову методику і технологію виготовлення зразків для ПЕМ, яка уможливлює підготувати зразок завтовшки до 20 нм, оточений об'ємним матеріалом і втілений у нього. Головна перевага системи полягає в малій товщині шару пошкоджень, спричинених іонним обробленням (менше 2 нм), в малому часі оброблення (1 - 2 години), в моніторингу зразка під час іонного фрезерування (топографія і товщина зразка) і у великій площі, що обробляється (5 - 30 мкм вздовж області, яка являє інтерес). Виконано порівняння декількох типів робочої речовини для іонних джерел, наведено схеми або креслення ключових вузлів пристрою. | ||
| 2. | 
Cherepin V. T. Secondary ion emission during the proton bombardment of metal surfaces [Електронний ресурс] / V. T. Cherepin, M. O. Vasylyev, I. M. Makeeva, V. M. Kolesnik, S. M. Voloshko // Progress in physics of metals. - 2018. - Vol. 19, № 1. - С. 49-69. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2018_19_1_5 В огляді проаналізовано результати досліджень закономірностей і особливостей вторинної іонної емісії у разі бомбардування металевих поверхонь найлегшими іонами та протонами, що мають найнижчі коефіцієнти розпорошення і, отже, спричиняють мінімальну ерозію досліджуваної поверхні. Інтерес до вивчення закономірностей та особливостей протонної мас-спектрометрії зумовлено пошуком нових фізичних можливостей підвищення виходу вторинних іонів з метою поліпшення аналітичних характеристик методу мас-спектрометрії вторинних іонів. Наведено результати порівняльного систематичного дослідження процесів емісії вторинних іонів перехідних металів, бінарних стопів і сполук, що відрізняються електронною структурою, фазовим і стехіометричним складами, у разі бомбардування протонами та іонами Аргону. Достовірно встановлено, що процеси вторинної іонної емісії у разі бомбардування протонами мають основні закономірності, виявлені під час бомбардування іонами інертних газів, у частині залежності від атомового номеру металів і концентраційних співвідношень у бінарних стопах і сполуках, але принципово відрізняються аномально високою ймовірністю іонізації частинок, розпорошених з металевих мішеней. Показано, що у разі бомбардування протонами багатокомпонентних мішеней спостерігається зменшення структурних, фазових та інших матричних ефектів, суттєвих у разі бомбардування іонами інертних газів. Ефекти посилення вторинної іонної емісії під впливом адсорбції та імплантації гідрогену з бомбардувального пучка протонів пов'язано з утворенням поверхневих зв'язків Ме - H і кількісно пояснено в межах моделей, що враховують розрив хімічних зв'язків атомів металу й адсорбату у процесі розпорошення та подальшої іонізацїї розпорошуваних атомів металу. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |